光激發脫離法的原理
光激發脫離是透過三個過程(①光激發、②鍵斷裂、③脫離)而發生的。
①光激發
位於σ軌道(成鍵軌道)的電子,當吸收波長相當於σ軌道與σ*軌道能量差的光時,便會激發至σ*軌道(反成鍵軌道)。
透過使用光通量密度高的真空紫外線,即使對光路長度較短的薄膜樣品,也能有效率地激發樣品。
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②鍵斷裂
當σ軌道與σ*軌道各有一顆電子時,其鍵能即為兩軌道能級之和。當鍵能為負值時,σ鍵便會發生斷裂。
③脫離
σ鍵的斷裂會產生各種碎片。部分分子會在表面發生再結合。若生成的碎片未被試樣束縛,則會發生脫離。
接下來,將透過勢能曲線(圖1)進行說明。

圖1 勢能曲線
當兩個電子位於結合軌道上的狀態(圖1 綠色勢能曲線)時,各振動能級呈現玻爾茲曼分布。
當波長足以引發此結合電子躍遷的真空紫外光照射時,系統將轉變為結合軌道與反結合軌道各含一個電子的狀態(圖1 紅色勢能曲線)。
處於零以上勢能的分子,其鍵會發生斷裂。

圖2 真空紫外光引起的斷裂
另一方面,若存在多重鍵或碎片受束縛的情況,則可能無法完全斷裂,或即使斷裂也無法脫離。

圖3 發生斷裂但未能脫離的情況①

圖4 發生斷裂但未能脫離的情況②
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